주류 PiG 제조 프로세스: 유리 가루와 광소 가루의 건조 혼합 → 초록체로 압축형조 → 밀폐를 위해 고온 합금이 과정에는 인쇄 된 얇은 필름 PiGF 경로가 포함됩니다.생산 결함 은 5 가지 주요 범주 로 나뉘어집니다: 인터페이스 화학 반응 결함, 합금 포어 및 거품 결함, 광적 일관성 결함, 폼 기계적 결함,그리고 신뢰성 노화 결함아래는 실행 가능한 개선 솔루션과 함께 결함 근본 원인에 대한 분해입니다.
열 소화 및 양자 효율의 급격한 감소
기존의 보로실리케이트/텔루라이트 유리는 550~850°C에서 시너지를 필요로 한다. 니트라이드 적색 광소 (CaAlSiN3, SrLiAl3N4) 와 KSF 플루오실리케이트 광소는 열 저항성이 떨어진다.높은 온도에서, 발광 중심 이온 (Ce3+, Eu2+) 은 산화와 발렌스 상태 변환을 겪으며, 직접 20% ~ 50%의 빛 효율을 감소시킵니다. YAG: Ce는 뛰어난 열 저항을 가지고 있지만,유리-포스포스 인터페이스의 내부 음산 확산은 여전히 양자 효율성을 저하시킨다..
유리와 광소 사이의 표면 부식 및 불순물 단계의 생성
유리에서 나오는 Si4+, Na+ 및 B3+는 YAG 입자로 확산되며, YAG에서 나오는 Y3+ 및 Al3+는 유리 매트릭스에 녹아 수십 개의 나노미터 두께의 비광광 불순물 확산 층을 형성합니다.이 층들은 빛의 변환을 차단합니다., 빛의 산란을 증가시키고 연관된 색 온도 이동을 유발합니다.
알칼리 금속에 의해 유발되는 가속화 된 인산화 분해
유리 안의 알칼리 금속 산화물 (Li2O, Na2O, K2O) 은 오랫동안 습한 열 조건 (85°C / 85%RH) 에서 재료 표면에 이동합니다.나이트라이드 광소의 결정 격자를 손상시키고 심각한 장기간 빛 붕괴와 색 좌표 변화로 이어집니다..